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电子电路测量的基本方法

整理发布: 京仪股份 时间: 2018-07-09 12:39 浏览次数:
电子电路测量的基本方法 文章由双金属温度计_电接点双金属温度计_热电阻热电偶温度计-京仪股份为您整理编辑。摘要:nbsp。nbsp。nbsp。测量是指确定被测物体大小的实验过程 电子测量是测量的一个重要分支。它是指以电子技术为理论基础,以电子测量设备和仪器为工具测量各种电量。 本章是理论性的。。。
 。 。 。 。 。 。测量是指确定被测物体大小的实验过程 电子测量是测量的一个重要分支。它是指以电子技术为理论基础,以电子测量设备和仪器为工具测量各种电量。 本章是理论性的。如果读者阅读有困难,他们可以跳过这一章,不影响对以下内容的学习。  。 。 。 。 。 。用万用表测量市电电压的大小,用示波器测量信号的波形都属于电子的测量范围。电子的测量范围很广,主要包括以下内容  。 。 。 。 。 。1.基本电量的测量。 。 。 。 。 。基本电量的测量包括电压、电流和功率等的测量。  。 。 。 。 。 。2.电信号波形和特性的测量。 。 。 。 。 。通过测量电信号的波形,可以直观地观察到各种电信号的波形。电信号特性的测量包括各种电信号的幅度、频率、相位、周期和失真的测量。  。 。 。 。 。 。3.电路元件参数的测量。 。 。 。 。 。电路元件参数的测量包括电阻、电容、电感等参数的测量(如晶体管放大系数、电感品质因数值等)。)  。 。 。 。 。 。4.电路特性的测量。 。 。 。 。 。电路特性的测量包括对电路衰减、增益、灵敏度和通带的测量。  。 。 。 。 。 。1.2.1静态测量和动态测量。 。 。 。 。 。静态测量和动态测量是根据测量过程中被测物体是否随时间变化来区分的。前者是指当被测电路不添加输入信号或仅添加不随时间变化的信号时,对放大器静态工作点的测量。后者指的是在测量(例如放大器增益的测量)过程中要添加到被测电路的时变输入信号。  。 。 。 。 。 。1.2.2直接测量和间接测量。 。 。 。 。 。1.直接测量。 。 。 。 。 。使用根据已知标准校准的电子仪器直接测量数据的方法称为直接测量法。 例如,用电压表测量交流电源电压等。9下面的例子说明了直接测量方法的应用。如图1-1a所示,如果你想知道流过灯泡的电流大小,你可以在b点断开电路,然后在断开的两端分别连接电流表的两个探头。当电流流过电流表时,电流表将显示电流的大小。  。 。 。 。 。 。应当注意,直接测量并不意味着直接读数仪器用于测量。虽然许多比较仪器可能无法直接从仪器的刻度盘获得测量值,但测量仍然是直接的,因为参与测量的对象是被测量的对象。 一般来说,直接测量法具有很高的精确度。 R2。间接测量。 。 。 。 。 。使用根据已知标准校准的电子仪器,不直接测量测量值,而是直接测量与测量值具有一定函数关系的一个或几个物理量,然后通过函数关系计算测量值。这种测量方法称为间接测量法。 例如,为了测量电阻器的消耗功率,可以通过直接测量电压和电流或者测量电流和电阻器来获得电阻器的功率,然后根据p = UI = i2r = U2/r 下面的例子说明了间接测量方法的应用,如图1-1b所示。如果你想知道流经灯泡的电流大小,你可以用电压表测量电阻R两端的电压U,然后你可以根据欧姆定律(I=U/R)找到电流大小(注:电阻的电阻值是已知的)  。 。 。 。 。 。类似地,可以通过如图1-1a所示的直接测量方法或者如图1-1b所示的间接测量方法来测量电路的电流。图1-1a中的直接测量方法可以直接读取被测物体的大小,但是需要断开电路,而图1-1b中的间接测量方法不需要断开电路,这相对方便,但是需要在测量之后通过欧姆定律来计算。  。 。 。 。 。 。直接测量法和间接测量法没有区别。进行电子测量时,应根据实际情况选择哪种方法  。 。 。 。 。 。有些测量需要直接和间接测量的组合,称为组合测量 例如,测量的量和其他量形成联立方程,并且通过直接测量这些量zui然后求解联立方程来获得测量的尺寸  。 。 。 。 。 。1.2.3直读测量和比较测量。 。 。 。 。 。直读测量是一种直接从仪表刻度盘上读取测量结果的方法。 例如,电压通常用电压表测量,信号频率用频率计测量等。是直接读数测量方法。 这种方法是根据仪器仪表的读数来判断测量尺寸。该方法简便易行,应用广泛。  。 。 。 。 。 。比较测量法(Comparative measurement method)是在测量过程中通过直接将测量数据与标准进行比较来获得测量结果的方法。桥梁就是一个典型的例子。它使用标准电阻(电容、电感)来测量测量数据。  。 。 。 。 。 。1.2.4测量方法的选择。 。 。 。 。 。使用正确的测量方法,可以获得比较测量结果,否则测量数据会不准确或错误,甚至损坏测量仪器或被测设备和部件等。 例如,当仅用万用表的xl档测量低功率晶体管的发射极结电阻时,由于仪表的内阻小,注入晶体管基极的电流过大,结果晶体管在使用前的测试过程中可能会损坏。  。 。 。 。 。 。选择测量方法时,首先应考虑被测对象本身的特性、环境条件、所需程度和测量设备等因素。综合考虑后,应正确选择正确的测量方法、测量设备和合理的测量程序,才能顺利获得正确的测量结果。

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